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Os pesquisadores do CEA-Leti desenvolveram tecnologia de empilhamento triplo de wafer para sensores de imagem incorporados em IA.
Os pesquisadores do CEA-Leti desenvolveram uma tecnologia de empilhamento triplo de wafer para sensores de imagem com IA incorporada.
Essa tecnologia, usando ligação híbrida e vias de silício, permite que os sensores gravem, interpretem e atuem nas cenas.
Ele abre caminho para um sensor de imagem CMOS inteligente de três camadas totalmente funcional com recursos de IA de ponta, melhorando potencialmente o desempenho do sensor em smartphones, câmeras, automóveis e dispositivos médicos sem aumentar o tamanho.
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CEA-Leti researchers developed triple-wafer stacking tech for AI-embedded image sensors.