Nearfield Instruments lança o 'Modo Lightning' para QUADRA, um sistema de metrologia AFM mais rápido para dispositivos semicondutores avançados. Nearfield Instruments launches 'Lightning Mode' for QUADRA, a faster AFM metrology system for advanced semiconductor devices.

Nearfield Instruments lança o 'Modo Lightning' para QUADRA®, o sistema de metrologia AFM de maior rendimento para dispositivos semicondutores avançados. Nearfield Instruments launches 'Lightning Mode' for QUADRA®, the highest-throughput AFM metrology system for advanced semiconductor devices. A QUADRA agora está totalmente qualificada e implantada para fabricação de alto volume, oferecendo metrologia 3D não destrutiva para memória, processos lógicos e estruturas de alta proporção. QUADRA is now fully qualified and deployed for high-volume manufacturing, offering 3D non-destructive metrology for memory, logic processes, and high-aspect-ratio structures. Esta inovação acelera o tempo de produção e a otimização e controle do rendimento HVM. This innovation accelerates time-to-yield and HVM yield optimization and control.

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