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flag A Aehr Test Systems estabelece a ordem de semicondutor automotivo chave para seu sistema de teste de dispositivo GaN.

flag A Aehr Test Systems recebeu uma ordem de produção inicial para o seu sistema de teste e queima em nível de wafer FOX-XP de um fornecedor líder de semicondutores automotivos. flag O sistema, projetado para dispositivos de nitreto de gálio (GaN) usados em aplicações automotivas, solares e de data center, começará a ser enviado em breve. flag Espera-se que os dispositivos GaN cresçam significativamente, com o mercado projetado para atingir US $ 2,5 bilhões até 2029.

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